Candidaturas para la nueva Dirección del IMB-CNM
La Junta del IMB-CNM abre el proceso de aplicación de candidaturas para renovar la Dirección del instituto, que finaliza su mandato el 6 de mayo de 2025.
Neurographene, nuevo proyecto del Flagship dedicado al grafeno
El Grupo de Biomonitorización perteneciente al Centro de Investigación Biomédica en Red (CIBER-BBN), en el cual participan investigadores del Instituto de Microelectrónica de Barcelona (IMB-CNM), es nuevo miembro del Flagship europeo dedicado al grafeno.
Bi(o)lateral Day IMB-CNM and ICMAB: Fostering collaborations in bio research lines and scientific services
The IMB-CNM and ICMAB Bi(o)lateral Day aims to foster collaboration between both centers in the field of bio lines and scientific services.
De la Ciencia a la Industria | Encuentro Deep Tech y Visita Guiada a la ICTS del IMB-CNM
https://www.imb-cnm.csic.es/es/node/1141Viquimarató Dia de la dona i la nena en ciència
https://www.imb-cnm.csic.es/es/node/1142Unitat d'Excel·lència María de Maeztu
L'Institut de Microelectrònica de Barcelona (IMB-CNM, CSIC) està reconegut com a Unitat d'Excel·lència María de Maeztu per l'Agència Estatal de Recerca per al període 2024-2030.
María de Maeztu Unit of Excellence
The Institute of Microelectronics of Barcelona (IMB-CNM, CSIC) is recognized as a Unit of Excellence María de Maeztu by the State Research Agency for the period 2024-2030.
Unidad de Excelencia María de Maeztu
El Instituto de Microelectrónica de Barcelona (IMB-CNM, CSIC) está reconocido como Unidad de Excelencia María de Maeztu por la Agencia Estatal de Investigación para el periodo 2024-2030.
Tècniques i equips de l'Àrea de Caracterització Elèctrica en Oblia
L'àrea de caracterització elèctrica en oblia s'encarrega de mesurar i analitzar les propietats elèctriques de dispositius semiconductors per a avaluar el seu rendiment, uniformitat i qualitat en la fabricació de circuits integrats.
Equipment and processes of the Electrical Characterisation on Wafer Area
The Electrical Characterisation on wafer Area is dedicated to measuring and analyzing the electrical properties of semiconductor devices to assess their performance, uniformity, and quality in manufacturing integrated circuits.