IMB-CNM technologies selected among the 100 with the greatest commercial potential of the CSIC
CSIC launches a catalog with its 100 most innovative and cutting-edge technologies available for licensing or collaborative projects. It includes four developments made at the Institute of Microelectronics in Barcelona.
Las tecnologías del IMB-CNM seleccionadas entre las 100 con mayor potencial comercial del CSIC
El CSIC lanza un catálogo con sus cien tecnologías más innovadoras y punteras disponibles para ser licenciadas o llevar a cabo proyectos colaborativos. Recoge cuatro desarrollos hechos en el Instituto de Microelectrónica de Barcelona.
La Reial Acadèmia de Ciències i Arts de Barcelona acull l’exposició de l’IMB-CNM La revolució silenciosa
La mostra fa un recorregut per la història del transistor fins als nostres dies, il·lustrat per una petita mostra d’oblies, xips i tot allò relacionat amb la microelectrònica i la seva fabricació, inclosa una ràdio de la col·lecció de la RACAB.
The Reial Acadèmia de Ciències i Arts de Barcelona hosts the IMB-CNM exhibition La revolució silenciosa
The exhibition takes a journey through the history of the transistor up to the present day, illustrated by a small exhibition of wafers, xips and everything related to microelectronics and its manufacture, including a radio from the RACAB collection.
La Reial Acadèmia de Ciències i Arts de Barcelona acoge la exposición del IMB-CNM La revolució silenciosa
La muestra hace un recorrido por la historia del transistor hasta nuestros días, ilustrado por una pequeña muestra de obleas, chips y todo aquello relacionado con la microelectrónica y su fabricación, incluida una radio de la colección de la RACAB.
IMB-CNM Talks: PTI Ciencia e Innovación Digital
https://www.imb-cnm.csic.es/es/node/1052Equips i processos de l'Àrea d'Inspecció i Mesures
L'Àrea d'Inspecció i Mesures és l'àrea que s'encarrega de dues tasques específiques: de verificar que, després de cada procés, les oblies es trobin lliures de partícules i defectes i de caracteritzar les capes dipositades o gravades mesurant diferents paràmetres òptics, elèctrics, mecànics, etc.
Equipment and processes of the Inspection and Measurement Area
The Inspection and Measurement Area is the area in charge of two specific tasks: to verify that, after each process, the wafers are free of particles and defects and to characterize the deposited or etched layers by measuring different parameters (optical, electrical, mechanical, etc).
Técnicas y equipos del Área de Inspección y Medidas
El Área de Inspección y Medidas es el área que se encarga de dos tareas específicas: de verificar que, tras cada proceso, las obleas se encuentren libres de partículas y defectos y de caracterizar las capas depositadas o grabadas midiendo distintos parámetros ópticos, eléctricos, mecánicos, etc.