Demostrada la viabilidad de las imágenes térmicas con una resolución inferior a 10 nm
Un trabajo publicado en ACS Nano muestra un método que permitirá estudiar las propiedades térmicas y composicionales cercanas a la superficie de los copolímeros de bloque autoensamblados y así revelar sus fuerzas impulsoras intrínsecas, contribuyendo al progreso de la fabricación ascendente.
Una colaboración entre IBM-Zurich, la Universidad de Göttingen y el IMB-CNM ha demostrado la viabilidad de la microscopía de sonda de barrido térmico para obtener imágenes de disipación térmica a nanoescala con una resolución lateral inferior a 10 nm.
El método permitirá estudiar las propiedades térmicas y de composición cercanas a la superficie de los copolímeros de bloque autoensamblados y, por lo tanto, revelará sus fuerzas impulsoras intrínsecas, contribuyendo al progreso de la fabricación de abajo hacia arriba. El trabajo ha sido publicado en ACS Nano.
Las sondas térmicas de silicio han demostrado su potencial para investigar las propiedades térmicas de varios materiales a alta resolución. El grupo presenta una técnica de imágenes térmicas basada en una sonda capaz de proporcionar una resolución lateral de menos de 10 nm a una velocidad de píxeles de menos de 10 ms.
Artículo de referencia
Thermal Imaging of Block Copolymers with Sub-10 nm Resolution. Steven Gottlieb, Louis Pigard, Yu Kyoung Ryu, Matteo Lorenzoni, Laura Evangelio, Marta Fernández-Regúlez, Colin D. Rawlings, Martin Spieser, Francesc Perez-Murano, Marcus Müller, and Armin W. Knoll. ACS Nano 2021. Publication Date:May 3, 2021. DOI: https://doi.org/10.1021/acsnano.1c01820