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Técnicas y equipos del Área de Encapsulado

El Área de Encapsulado es el área de Sala Blanca donde se realizan tareas como el corte de obleas, die bonding o flip-chip

Técnicas

  • Adhesión y corte de obleas de silicio y sustratos de distintos materiales
  • Embalaje de dispositivos microelectrónicos: dosificación de adhesivos epoxídicos, wirebonding, ribbon bonding, Flip Chip, etc.
  • Prueba de empaquetado de circuitos: prueba destructiva o no destructiva, prueba de unión de conexiones, test de la soldadura por test de cizalla, etc.

Equipos y Capacidades disponibles

Corte del substrato

Sierra de corte K&S780

  • Equipo semiautomático.
  • Procesa Sustratos de hasta 6".
  • Precisión del eje Y: 2 µm.
  • Cuchillas tipo hub y hub less de 2".
  • Múltiples dimensiones de chip.
  • Múltiples profundidades de corte.
  • Múltiples Ángulos de rotación Paramétricos.
  • Capacidad para cortar sustratos de Si, Ge, GaAs, GaN, Borosilicato, Al2O3, SiO2, SiC, LiNbO3.

Sierra de corte K&S 980 (1998)

  • Equipo semiautomático.
  • Procesa Sustratos de hasta 8".
  • Precisión del eje Y: 2 µm.
  • Cuchillas tipo hub y hub less de 2".
  • Múltiples dimensiones de chip.
  • Múltiples profundidades de corte.
  • Ángulo de rotación por referencia.
  • Capacidad para cortar sustratos de Si, Ge, GaAs, GaN, Borosilicato, Al2O3, SiO2, SiC, LiNbO3.

Sierra de corte DISCO DAD-3350 (2019)

  • Procesa Sustratos de hasta 8".
  • Corte circular para reducir tamaño de la oblea.
  • Opción US para corte de SiC.
  • Verificación de la calidad del corte durante el proceso.
  • Burbujeador de CO2.
  • Inyector de Aditivos para procesos de larga duración.
  • Altamente configurable y programable con asistentes y PRS.
  • Mayor calidad de corte con menor impacto medioambiental.
  • Capacidad para cortar sustratos de Si, Ge, GaAs, GaN, Borosilicato, Al2O3, SiO2, SiC, LiNbO3.

LatticeGear 420 Cleaver (2015)

  • Corta casi todos los materiales cristalinos.
  • Ajuste preciso del marcado.
  • Control de la posición del marcador con una precisión de 5 µm.
  • Posicionamiento de la muestra de alta precisión (±10 µm).
  • Tamaño de muestra resultante de hasta 5 mm.
  • Indentador de diamante de punta pulida con cara frontal pulida para un posicionamiento preciso.
  • Cámara CCD en color y objetivo zoom monocular parfocal.
  • Tamaño del sustrato de hasta 300 mm.

Encapsulado de Dispositivos Microelectrónicos

Dr. Tresky T4907 (2006)

  • Pick&Place manual
  • Dispensador de adhesivos y pastas blandas
  • Estación de reparación.
  • Opción de flip chip instalada.
  • Precisión de posicionamiento de 10 µm.

Soldadoras de hilo K&S 4123, 4523, 4127 (1986 y 2005)

  • Soldadoras totalmente manuales.
  • Acepta cápsulas estándar y sustratos de hasta 4".
  • Admite Hilos de Al, Au y Cu de 0,7 a 15 mils.
  • Portamuestras calefactado.
  • Sistema de puntería para mejorar la precisión en el posicionamiento.

Soldadora de hilo TPT HB16 (2009)

  • Soldadora de hilo y ribbon semiautomática y Deep Access.
  • Permite utilizar hilo de Au, Al, Ag, Cu (17 a 75 µm) para Wedge & Ball Bonding.
  • Ribbon de Au y Al de hasta 250 x 25 µm.
  • Gran capacidad de almacenamiento de programas con más de 100 parámetros.
  • Acepta chip carriers planos y sustratos de hasta 4".
  • Portamuestras calefactado.
  • Sistema de puntería para mejorar la precisión en el posicionamiento.
  • Posibilidad de hacer bumps para encapsulado Flip-chip.

Soldadora & Bond Tester Bondtec 56XXi (2022)

  • Cabezales intercambiables para todos los procesos de soldadura y test.
  • Cabezales instalados para soldadura Ball Bonding (5610i) y Deep Access Wirebonding (5632i).
  • Cabezales para Pulltest instalados - 100 cN - 5000 cN y cabezales para Bond ShearTest - 500 cN - 5000 cN.
  • Posibilidad de soldadura automático con sistema de reconocimiento de patrones.
  • Parámetros de soldadura ajustables (formas de loop, perfiles de fuerza y potencia...), almacenados en programas de ilimitados.
  • Recorridos XY de 100 mm x 100 mm
  • Hasta 1800 soldaduras/h

Die Shear & Bond Tester Royce 650 (2010)

  • Plataforma de 305 mm x 155 mm que admite obleas, cápsulas o sustratos de hasta 300 mm.
  • Cabezales de Test intercambiables.
  • Test de Fuerza de cizalla de hasta 200 kgf.
  • Test de Fuerza de PullTest del hilo de hasta 10 kgf.
  • Precisión total del sistema: ±0,1%.

Descarga las técnicas y capacidades del Área de Encapsulado

Equipo de Encapsulado

  • Alberto Moreno Garriga (ext. 435572)
  • María Sánchez Martínez (ext. 435573)
Foto de equipo del área de encapsulado