Técnicas y equipos del Área de Encapsulado
El Área de Encapsulado es el área de Sala Blanca donde se realizan tareas como el corte de obleas, die bonding o flip-chip
Técnicas
- Adhesión y corte de obleas de silicio y sustratos de distintos materiales
- Embalaje de dispositivos microelectrónicos: dosificación de adhesivos epoxídicos, wirebonding, ribbon bonding, Flip Chip, etc.
- Prueba de empaquetado de circuitos: prueba destructiva o no destructiva, prueba de unión de conexiones, test de la soldadura por test de cizalla, etc.
Equipos y Capacidades disponibles
Corte del substrato
Sierra de corte K&S780
- Equipo semiautomático.
- Procesa Sustratos de hasta 6".
- Precisión del eje Y: 2 µm.
- Cuchillas tipo hub y hub less de 2".
- Múltiples dimensiones de chip.
- Múltiples profundidades de corte.
- Múltiples Ángulos de rotación Paramétricos.
- Capacidad para cortar sustratos de Si, Ge, GaAs, GaN, Borosilicato, Al2O3, SiO2, SiC, LiNbO3.
Sierra de corte K&S 980 (1998)
- Equipo semiautomático.
- Procesa Sustratos de hasta 8".
- Precisión del eje Y: 2 µm.
- Cuchillas tipo hub y hub less de 2".
- Múltiples dimensiones de chip.
- Múltiples profundidades de corte.
- Ángulo de rotación por referencia.
- Capacidad para cortar sustratos de Si, Ge, GaAs, GaN, Borosilicato, Al2O3, SiO2, SiC, LiNbO3.
Sierra de corte DISCO DAD-3350 (2019)
- Procesa Sustratos de hasta 8".
- Corte circular para reducir tamaño de la oblea.
- Opción US para corte de SiC.
- Verificación de la calidad del corte durante el proceso.
- Burbujeador de CO2.
- Inyector de Aditivos para procesos de larga duración.
- Altamente configurable y programable con asistentes y PRS.
- Mayor calidad de corte con menor impacto medioambiental.
- Capacidad para cortar sustratos de Si, Ge, GaAs, GaN, Borosilicato, Al2O3, SiO2, SiC, LiNbO3.
LatticeGear 420 Cleaver (2015)
- Corta casi todos los materiales cristalinos.
- Ajuste preciso del marcado.
- Control de la posición del marcador con una precisión de 5 µm.
- Posicionamiento de la muestra de alta precisión (±10 µm).
- Tamaño de muestra resultante de hasta 5 mm.
- Indentador de diamante de punta pulida con cara frontal pulida para un posicionamiento preciso.
- Cámara CCD en color y objetivo zoom monocular parfocal.
- Tamaño del sustrato de hasta 300 mm.
Encapsulado de Dispositivos Microelectrónicos
Dr. Tresky T4907 (2006)
- Pick&Place manual
- Dispensador de adhesivos y pastas blandas
- Estación de reparación.
- Opción de flip chip instalada.
- Precisión de posicionamiento de 10 µm.
Soldadoras de hilo K&S 4123, 4523, 4127 (1986 y 2005)
- Soldadoras totalmente manuales.
- Acepta cápsulas estándar y sustratos de hasta 4".
- Admite Hilos de Al, Au y Cu de 0,7 a 15 mils.
- Portamuestras calefactado.
- Sistema de puntería para mejorar la precisión en el posicionamiento.
Soldadora de hilo TPT HB16 (2009)
- Soldadora de hilo y ribbon semiautomática y Deep Access.
- Permite utilizar hilo de Au, Al, Ag, Cu (17 a 75 µm) para Wedge & Ball Bonding.
- Ribbon de Au y Al de hasta 250 x 25 µm.
- Gran capacidad de almacenamiento de programas con más de 100 parámetros.
- Acepta chip carriers planos y sustratos de hasta 4".
- Portamuestras calefactado.
- Sistema de puntería para mejorar la precisión en el posicionamiento.
- Posibilidad de hacer bumps para encapsulado Flip-chip.
Soldadora & Bond Tester Bondtec 56XXi (2022)
- Cabezales intercambiables para todos los procesos de soldadura y test.
- Cabezales instalados para soldadura Ball Bonding (5610i) y Deep Access Wirebonding (5632i).
- Cabezales para Pulltest instalados - 100 cN - 5000 cN y cabezales para Bond ShearTest - 500 cN - 5000 cN.
- Posibilidad de soldadura automático con sistema de reconocimiento de patrones.
- Parámetros de soldadura ajustables (formas de loop, perfiles de fuerza y potencia...), almacenados en programas de ilimitados.
- Recorridos XY de 100 mm x 100 mm
- Hasta 1800 soldaduras/h
Die Shear & Bond Tester Royce 650 (2010)
- Plataforma de 305 mm x 155 mm que admite obleas, cápsulas o sustratos de hasta 300 mm.
- Cabezales de Test intercambiables.
- Test de Fuerza de cizalla de hasta 200 kgf.
- Test de Fuerza de PullTest del hilo de hasta 10 kgf.
- Precisión total del sistema: ±0,1%.
Descarga las técnicas y capacidades del Área de Encapsulado
Equipo de Encapsulado
- Alberto Moreno Garriga (ext. 435572)
- María Sánchez Martínez (ext. 435573)
