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Laboratorio de Caracterización Eléctrica de Dispositivos de Potencia

El Laboratorio de Caracterización Eléctrica de Dispositivos de Potencia cubre las principales necesidades del grupo de investigación de Dispositivos y Sistemas de Potencia del IMB-CNM en términos de evaluación eléctrica de los dispositivos de potencia desarrollados en la Sala Blanca. Además, también está abierto a colaboraciones industriales y / o académicas, como la caracterización de dispositivos comerciales en condiciones específicas que no se proporcionan en las fichas técnicas.

Actividades principales

Las principales actividades realizadas en el laboratorio de caracterización eléctrica de dispositivos de potencia son:

  • Validación eléctrica de nuevos dispositivos de potencia desarrollados en la Sala Blanca.
  • Análisis eléctrico de dispositivos comerciales de potencia.
  • Desarrollo de nuevas técnicas de caracterización eléctrica.
  • Desarrollo de sistemas integrados de potencia.

Técnicas

  • Caracterización eléctrica en estado estacionario de dispositivos de potencia a diferentes temperaturas:
  1. Curvas características corriente - tensión (en conducción y en bloqueo)
  2. Extracción de parámetros eléctricos (resistencia en conducción, tensión umbral, etc.).
  3. Curvas características de capacidad - tensión
  4. Calibración de parámetros termo-sensibles (hasta 400ºC)
  5. Cartografías sobre oblea (on-wafer) con mesas de puntas semi-automáticas
  • Caracterización eléctrica dinámica de dispositivos de potencia a diferentes temperaturas:
  1. Tests de conmutación y extracción de parámetros dinámicos (tiempo de turn-on y turn-off, energías de conmutación, etc.)
  • Pruebas de fiabilidad / robustez de los dispositivos de potencia:
  1. Tests de sobre-corriente
  2. Ciclados de potencia
  3. Test de cortocircuito
  • Desarrollo de sistemas integrados de potencia:
  1. Montaje de sistemas integrados de potencia (módulos de potencia)
  2. Inspección óptica de sistemas integrados de potencia (análisis de metalitzacions, etc.)
  3. Desarrollo de sistemas específicos de medida (placas de conmutación, etc.)
  • Desarrollo y producción de probe-cards (cartas de puntas) para la cartografía automática on-wafer de dispositivos de potencia.

Equipo

  • Caracterización estática de dispositivos de potencia:
  1. Semiautomatic wafer probers with hot chuck (300ºC)
  2. Source-measurement units (up to 15kV and 10A)
  3. CV measurement equipment
  4. Curve tracers (up to 3300 V – 400 A)
  5. Instrumentation controllers (GPIB bus)
  • Caracterización dinámica de componentes:
  1. Switching times
  2. Power switching losses
  3. Short-circuit characterization
  4. Gate driving characteristics)
  5. Parasitic capacitances extraction (up to 800 V)
  • Equipos de caracterización de sobretensiones y ESD
  • Equipos para el diseño, desarrollo y caracterización de sistemas eléctricos.

Persona de contacto