Demostrada la viabilitat de les imatges tèrmiques amb una resolució inferior a 10 nm
Un treball publicat en ACS Nano mostra un mètode que permetrà estudiar les propietats tèrmiques i composicionals properes a la superfície dels copolímers de bloc autoensamblats i així revelar les seves forces impulsores intrínseques, contribuint al progrés de la fabricació ascendent.
Una col·laboració entre IBM-Zurich, la Universitat de Göttingen i l'IMB-CNM ha demostrat la viabilitat de la microscòpia de sonda de rastreig tèrmic per obtenir imatges de dissipació tèrmica a nanoescala amb una resolució lateral inferior a 10 nm.
El mètode permetrà estudiar les propietats tèrmiques i de composició properes a la superfície dels copolímers de bloc autoensamblats i, per tant, revelarà les seves forces impulsores intrínseques, contribuint al progrés de la fabricació de baix a dalt. El treball ha estat publicat en ACS Nano.
Les sondes tèrmiques de silici han demostrat el seu potencial per investigar les propietats tèrmiques de diversos materials a alta resolució. El grup presenta una tècnica d'imatges tèrmiques basada en una sonda capaç de proporcionar una resolució lateral de menys de 10 nm a una velocitat de píxels de menys de 10 ms.
Article de referència
Thermal Imaging of Block Copolymers with Sub-10 nm Resolution. Steven Gottlieb, Louis Pigard, Yu Kyoung Ryu, Matteo Lorenzoni, Laura Evangelio, Marta Fernández-Regúlez, Colin D. Rawlings, Martin Spieser, Francesc Perez-Murano, Marcus Müller, and Armin W. Knoll. ACS Nano 2021. Publication Date:May 3, 2021. DOI: https://doi.org/10.1021/acsnano.1c01820