Vés al contingut

Equips i processos de l'Àrea d'Encapsulat

L'àrea d'Encapsulat és l'àrea de la Sala Blanca on es duen a terme tasques com el tall de les oblies, el die-bonding o el flip-chip

Tècniques

  • Tall i adhesió de les oblies de silici i substrats de diferents materials
  • Encapsulat de dispositius microelectrónics: administrant adhesius d'epoxy, wirebonding, ribbon bonding, Flip Chip, etc.
  • Test d'encapsulat: test destructiu o no destructiu, test del Wirebonding per cizalla , test del encapsulat per cizalla, etc.

Equipaments i Capacitats disponibles

Tall del substrat

Serra de tall K&S 780 

  • Equip semi-automàtic.
  • Processa substrats de fins a 6 ".
  • Precisió de l’eix y: 2 µm.
  • Discos de tall de tipus Hub i hubless de 2".
  • Múltiples dimensions del xip.
  • Múltiples profunditats de tall.
  • Múltiples angles de rotació paramètrics.
  • Capacitat de tallar substrats de Si, Ge, GaAs, GaN, Borosilicat, Al2O3, SiO2, SiC, LiNbO3.

Serra de tall K&S 980 (1998)

  • Equip semi-automàtic.
  • Processa substrats de fins a 8 ".
  • Precisió de l’eix y: 2 µm.
  • Discos de tall de tipus Hub i hubless de 2".
  • Múltiples dimensions del xip.
  • Múltiples profunditats de tall.
  • Angle de rotació per referència.
  • Capacitat de tallar substrats de Si, Ge, GaAs, GaN, Borosilicat, Al2O3, SiO2, SiC, LiNbO3.

Serra de tall DISCO DAD-3350 (2019)

  • Equip semi-automàtic.
  • Processa substrats de fins a 8 ".
  • Tall circular per reduir la mida de l’oblia.
  • Té instal·lada la opció de US per el tall de SiC.
  • Verificació de la qualitat del tall durant el procés.
  • Injector de CO2.
  • Injector d’additiu per a processos a llarga durada.
  • Altament configurable i programable amb assistents i PRS.
  • Qualitat de tall més elevada amb un impacte ambiental menor.
  • Capacitat de tallar substrats de Si, Ge, GaAs, GaN, Borosilicat, Al2O3, SiO2, SiC, LiNbO3.

LatticeGear 420 Cleaver (2015)

  • Talla gairebé tots els materials cristal·lins.
  • Ajust de marcatge precís.
  • Control de posició del marcador amb una precisió de 5 µm.
  • Posicionament de la mostra d’alta precisió (± 10 µm).
  • Mida de la mostra resultant fins a 5 mm.
  • Indentor de diamant de punta polida amb una cara frontal polida per a un posicionament precís.
  • Càmera CCD en color i zoom monocular parfocal.
  • Mida del substrat de fins a 300 mm.

Encapsulat de dispositius microelectrónics

Dr. Tresky T4907 (2006)

  • Pick & Place Manual
  • Dispensador de pasta adhesiva i pasta de soldar.
  • Estació de reparació.
  • Instal·lada l'opció de flip chip.
  • Precisió de posicionament de 10 µm.

Soldadores de fils K&S 4123, 4523, 4127 (1986 y 2005)

  • Soldadores completament manuals.
  • Accepta càpsules i substrats estàndard de fins a 4 ".
  • Admet fils de Al, Au i Cu de 0,7 a 15 mils.
  • Porta mostres de calefactable.
  • Sistema per apunta i millorar la precisió en el posicionament.

Soldadora de fils TPT HB16 (2009)

  • Fil soldador i cinta semi -automàtica i accés profund.
  • Permet utilitzar Au Fil, Ag, Cu (de 17 a 75 µm) per a la falda i la bola.
  • Ribbon de Au i fins a 250 x 25 µm.
  • Gran capacitat d’emmagatzematge de programes amb més de 100 paràmetres.
  • Accepta càpsules planes i substrats de fins a 4 ".
  • Porta mostres de calefactable.
  • Sistema per apunta i millorar la precisió en el posicionament.
  • Possibilitat de fer bumps per encapsulats Flip-chip.

Soldadora de fils i Bond Tester BondTec 56xxi (2022)

  • Capçals intercanviables per a tots els processos de soldadura i Test.
  • Capçals instal·lats per a la soldadura Ballbonding (5610i) i Wedgebonding (5632i).
  • Capçals instal·lats per  Pulltest 100 cN - 5000 cN i capçals instal·lats per a Shear Test 500 cN - 5000 cN.
  • Possibilitat de soldadura automàtica amb sistema de reconeixement de patrons.
  • Paràmetres de soldadura regulables (formes de bucle, perfils de força i potència ...), emmagatzemats en programes il·limitats.
  • Recorregut XY de 100 mm x 100 mm.
  • Fins a 1800 soldadures/h

Royce 650 Die Shear & Bond Tester (2010)

  • Plataforma de 305 mm x 155 mm que admet oblies, portachips o substrats de fins a 300 mm.
  • Capçals de test intercanviables.
  • Die Shear Test de fins a 200 kgf.
  • Pull Test de fins a 10 kgf.
  • Precisió total del sistema: ± 0,1%

Descarrega les tècniques i capacitats de l'Àrea d'Encapsulat

Equip d'Encapsulat

  • Alberto Moreno Garriga (ext. 435572)
  • María Sánchez Martínez (ext. 435573)
Foto de equipo del área de encapsulado