Laboratori de Caracterització Elèctrica de Dispositius de Potència
El Laboratori de Caracterització Elèctrica de Dispositius de Potència cobreix les principals necessitats del grup de recerca de Dispositius i Sistemes de Potència de l’IMB-CNM en termes d’avaluació elèctrica dels dispositius de potència desenvolupats a la Sala Blanca. A més, també està obert a col·laboracions industrials i / o acadèmiques, com ara la caracterització de dispositius comercials en condicions específiques que no es proporcionen a les fitxes tècniques.
Activitats principals
Les principals activitats realitzades al laboratori de caracterització elèctrica de dispositius de potència són:
- Validació elèctrica de nous dispositius de potència desenvolupats a la Sala Blanca.
- Anàlisi elèctric de dispositius comercials de potència.
- Desenvolupament de noves tècniques de caracterització elèctrica.
- Desenvolupament de sistemes integrats de potència.
Tècniques
- Caracterització elèctrica en estat estacionari de dispositius de potència a diferents temperatures:
- Corves característiques corrent – tensió (en conducció i en bloqueig)
- Extracció de paràmetres elèctrics (resistència en conducció, tensió llindar, etc.).
- Corbes característiques de capacitat - tensió
- Calibració de paràmetres termo-sensibles (fins a 400ºC)
- Cartografies sobre oblia (on-wafer) amb taules de puntes semi-automàtiques
- Caracterització elèctrica dinàmica de dispositius de potència a diferents temperatures:
- Tests de commutació i extracció de paràmetres dinàmics (temps de turn-on i turn-off, energies de commutació, etc.)
- Proves de fiabilitat/robustesa dels dispositius de potència:
- Tests de sobre-corrent
- Ciclatges de potència
- Test de curt-circuit
- Desenvolupament de sistemes integrats de potència:
- Tests de sobre-corrent
- Ciclatges de potència
- Test de curt-circuit
- Desenvolupament i producció de probe-cards (cartes de puntes) per a la cartografia automática on-wafer de dispositius de potència.
Equip
- Caracterització estàtica dels dispositius de potència:
- Semiautomatic wafer probers with hot chuck (300ºC)
- Source-measurement units (up to 15kV and 10A)
- CV measurement equipment
- Curve tracers (up to 3300 V – 400 A)
- Instrumentation controllers (GPIB bus)
- Caracterització dinàmica dels components:
- Switching times
- Power switching losses
- Short-circuit characterization
- Gate driving characteristics)
- Parasitic capacitances extraction (up to 800 V)
- Equips de sobretensió i caracterització ESD
- Equips per al disseny, desenvolupament i caracterització de sistemes de potència
Persona de contacte
Xavier Jordà