CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTÍFICAS
Instituto de Microelectrónica de Barcelona

CatalanEspañol(Spanish Formal International)English (United Kingdom)
Home Equipament i ICTS Caracterització elèctrica en oblia
Caracterització elèctrica en oblia PDF Imprimeix Correu electrònic

 

Les activitats principals d'aquest laboratori consisteixen en:
  • Test paramètric
  • Disseny i caracterització d'estructures de test
  • Posta a punt de noves tècniques de mesura en oblia
  • Caracterització de dispositius electrònics

Contacte

Sergi Sánchez ( Aquesta adreça electrònica s'està protegint contra robots de correu brossa. Necessiteu que el JavaScript estigui habilitat per a mostrar-la )



EQUIPS

 

Sistema de test paramètric:

Estació de test paramètric semi-automàtica, basada en una taula de puntes semi-automàtica Süss Microtech PA200 i un Sistema de Test Paramètric Agilent 41000. Té 4 unitats SMU, un mesurador de CV i una matriu d'interconnexions. La connexió amb l'oblia es fa mitjançant cartes de puntes.


Equip de mesures en oblia de propòsit general:

Hi ha disponibles dues taules de puntes semi-automàtiques (Wentworth AWP 1050 i Süss Microtech PA200). L'oblia pot contactar-se fent servir micromanipuladors o carta de puntes. Es poden fer servir conjuntament amb els equips de mesures elèctriques disponibles: dos Analitzadors de Paràmetres de Semiconductors (un Agilent 4155B i un Keithley 4200, incloent tots dos 4 SMU), equips de mesures CV (HP4280A, HP4192A i HP4140B), i altres equips auxiliars menors. També es disposa de dues taules de puntes manuals amb soport tèrmic.

 

 
Sede: Campus UAB. Cerdanyola del Vallès. Barcelona. E-08193 (Españ
Tel:(+34) 93 594 7700 Fax:(+34) 93 580 1496